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Seica將參加2022年IPP技術(shù)日，我們很榮幸再次與我們的合作伙伴IPP一起參加飛針測試會議。一如既往，這兩天的行程將結(jié)合技術(shù)演示和現(xiàn)場機(jī)器演示。

Seica將展示飛針測試解決方案以及Pilot和Rapid系列，展示垂直飛針測試系統(tǒng)Rapid V8，配備8個(gè)完全獨(dú)立的移動(dòng)測試探針，每側(cè)4個(gè)探針，進(jìn)行演示并指出所有創(chuàng)新性能。

由于采用了第三代線性導(dǎo)軌技術(shù)，Seica飛針測試系統(tǒng)能夠以最高的精度和測量重復(fù)性實(shí)現(xiàn)極高的速度。

現(xiàn)在注冊(https://www.ippgroupltd.com/electronics/ipp-electronic)  參加IPP技術(shù)日，除了使用8探針系統(tǒng)進(jìn)行演示外，您還將有可能獲得有關(guān)Seica飛針系統(tǒng)的全面信息，并能夠觀看顯示Seica在35年的業(yè)務(wù)活動(dòng)中取得的高技術(shù)水平的視頻：尤其是新的Pilot VX平臺。

Pilot VX通過尖端解決方案提高了飛針測試性能的標(biāo)準(zhǔn)，解決了電子板制造商尋求優(yōu)化投資的基本問題。一個(gè)主要的問題是成本，由于時(shí)間是成本，由于新的最先進(jìn)的機(jī)械性能和運(yùn)動(dòng)控制，測試時(shí)間最多可減少50%，從而為您節(jié)省資金。Pilot VX有12個(gè)多功能測試頭，可同時(shí)接觸多達(dá)44個(gè)點(diǎn)，技術(shù)先進(jìn)的測量硬件、基于微波的新測量技術(shù)和優(yōu)化的VIVA軟件可實(shí)現(xiàn)不同類型測試的并行化，節(jié)省更多時(shí)間。該平臺還包括智能分析功能，以及基于人工智能原理的算法，可以在運(yùn)行時(shí)自動(dòng)優(yōu)化測試流程，同時(shí)保持測試覆蓋率目標(biāo)。

Pilot VX：快速、強(qiáng)大、智能……飛針測試的未來。

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